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包装密封试验仪测试方法

更新时间:2023-10-16

简要描述:

微泄漏包装完整性测试仪测试方法是通过对真空室抽空,使浸在水中的试样产生内外压差,观测试样内气体外逸情况,以判定试样的密封性能,或通过对真空室抽空,使试样产生内外压差,观测试样膨胀及释放真空后试样形状恢复情况,以判定试样的密封性能。

型号:LT-01厂商性质:生产厂家浏览量:796

测试方法

通过对真空室抽空,使浸在水中的试样产生内外压差,观测试样内气体外逸情况,以判定试样的密封性能,或通过对真空室抽空,使试样产生内外压差,观测试样膨胀及释放真空后试样形状恢复情况,以判定试样的密封性能。

 应用说明

密封试验仪适用于食品、制药、日化、电子等行业软包装件的密封试验。通过试验可以有效地比较和评价软包装件的密封工艺及密封性能,为确定相关的技术指标提供科学依据。密封试验仪也可进行经跌落、耐压试验后的试件的密封性能测试。

<strong><strong>包装密封试验仪测试方法</strong></strong>

 技术参数

真空度: 0~-90Kpa
真空室:Φ270 mmx210 mm (H) ( 其它尺寸可定制)
设备尺寸:300X380X500mm
气源: 空气压缩机
气源压力: 0.7MPa(用户自备气源)

厂家介绍

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Paratronix普创是一家专业从事包材检测理论研究与检测硬件开发并具有独立的自主知识产权的高科技企业。产品广泛服务于国家质检药检机构、印刷、包装、日化、科研院校、食品、医药、化工、新能源、新材料等领域。
Paratronix普创一直以客户需求为导向,坚持走自主创新之路,以质量和科技技术行业发展为目的。公司以“专注检测理论研究,以客户需求”为价值中心,矢志不渝的为用户提供zui可信赖的服务。
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